Werde es erst einmal so probieren, denn das Testspulengehäuse (aus ALU) scheint doch einen erheblichen grösseren Einfluss auf die Messwerte zu haben, als von mir gedacht. Aber um den Treath dann auch mal abzuschließen, FET bedeutet doch einfach ersetzten des Transistor durch einen FET. Sprich Gate mit Basis und Source mit Kollektor und zu guter Letzt Drain mit Emitter. Richtig ?
Gruß Sven
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