also, nee, da würde ich schon eher dann mit 2 Elektronenmikroskop-Manipulatoren die Elektronen in ihren Schalen in µC- und Sensor-Atomen einzeln setzen und löschen, um die Zustandsverteilungen quantenmechanisch zu evaluieren, allerdings ohne Doppelspalt dazwischen.
Oder alternativ vlt doch erstmal sicherheitshalber die i2c-Adressen per Software-i2c-Scanner checken, dann weiß man hinterher auch evtl besser wohin dann mit den einzelnen Elektronen.
Lesezeichen